产品综述：

Ceyear 3674系列矢量网络分析仪是技术创新的巅峰之作，可以轻松应对半导体芯片测试、材料测试、天线测试、高速线缆测试、微波部组件测试等带来的严峻挑战。出色的射频特性、灵活的硬件配置和丰富的软件功能相辅相成，只需一次连接即可完成多种测量任务。创新的人机交互设计可帮助您快速便捷地完成所需的测量设置，超大触摸屏为您带来灵活、高效的操作体验。

功能特点：

脉冲S参数测量

内置4路脉冲发生器，用于内部源调制、中频门控制，并从后面板输出。每路脉冲发生器的脉宽和延时独立可设。

源调制来源包括后面板输入、内部脉冲发生器和常开、常闭等多种状态，既可利用外部脉冲对矢量网络分析仪的源进行调制，也可以使其处于连续波状态，通过触发同步模式进行测量，为T/R组件、天线收发模块等测试提供有力支撑。

混频器/变频器标量测量分析

提供完善的混频器/变频器特性设置，支持双阶本振、外部本振源输入；支持线性扫、功率扫、段扫等多种扫描类型；通过简单设置可自动完成复杂混频器RF、双LO、IF之间倍频、分频等特性计算；支持源端口功率、本振端口功率、衰减、功率扫特性设置等。

混频器/变频器矢量测量分析

提供完整的混频器/变频器幅度响应、绝对相位及绝对时延响应测量能力。校准过程中引入双混频器实现参考通路变频与校准通路的变频。引入的双混频器要求与被测件的变频特性一致，且校准混频器要求变频特性互易。

单次连接即可完成混频器/变频器复数特性测量，幅度和相位测量精度高。

增益压缩测量

增益压缩测量功能能够通过一次连接、一次校准完成有源器件在工作频带内的线性增益、压缩点增益、压缩点输入功率、压缩点输出功率、线性输入匹配等压缩参数测量。

增益压缩扫描三维图绘制

提供三维视图功能，更好地展示被测件在激励状态下的工作性能，另外还可以展示频率切面和功率切面，可以直观展现被测件在每个频率点和每个功率点的特性。

噪声系数测量

一次连接，可同时测试S参数、噪声系数、噪声参数、增益压缩和变频增益等多种参数。基于冷源噪声系数测试方法，可进行精确的噪声系数和噪声参数测试。通过构建先进的噪声相关矩阵模型，结合矢量网络分析仪精密的S参数校准，适用于较小噪声系数被测件的精确测试。测量动态范围******可达55dB，适用于较大增益被测件的测试。

频谱测量分析

矢量网络分析仪的每个端口都可以完成被测件的输入谱和输出谱的测量，可在小的分辨率带宽下快速地定位被测件杂散谱和谐波的状态。

针对有源器件的测试，频谱测量功能可提供更多的测量参数，单台仪器通过单次连接可实现常规的S参数测试、杂散和谐波的定位测量；完备的比值和绝对测量误差修正技术可提供更准确的测量结果。

信号完整性测量分析

具备强大的信号完整性测量分析能力，可提供微米级的空间分辨率。单一视图同时完成时域和频域测试分析，可以精准测试传输线上阻抗特性的变化情况；便捷的近端与远端串扰测试，用于测试多条传输线之间相互影响的程度。

高级时域分析选件具备基于网络参数的虚拟眼图生成及分析功能。根据不同的高速数字通信标准，高级时域分析选件可以使用预先定义好的眼图模板进行高效率Pass/Fail测试。

总谐波失真（THD）测量分析

宽频带测试，可用于真差分激励下的输入输出功率、增益、谐波总失真等参数的分析，简化差分器件的谐波性能测试复杂度。

单次校准同时完成多通道的误差修正，设置和测量参数的编辑可通过XML文件的方式进行，一键实现参数导入。

自动夹具移除

对于非标准接头器件测试，如封装微波器件、在片器件等，此类器件无法与矢量网络分析仪直接相连。通常使用夹具将被测件连接到矢量网络分析仪上，但同时夹具也引入了测量误差。自动夹具移除功能可以进行夹具参数的提取、存储以及夹具去嵌入，最终获得被测件的真实参数。

极致的用户体验

界面简洁直观，便于操作，提高测试效率

外设接口丰富，灵活实用

1-10MHz外参考输入/输出接口

2-110V/220V自适应电源输入

3-可拆卸CPU模块，配置硬盘、LAN、DP、USB、GPIB接口

4-激励输出、本振输出等接口，提供灵活的测量配置，提供灵活的测量配置

5-外中频输入接口，脉冲输入输出接口

6-偏置T配置输入接口

7-自动测试接口，触发输入/输出接口，噪声源电源接口